DE2628551A1 - Microscope photometer double beam analysis appts. - has chopper and comparator mirror between specimen and detector - Google Patents

Microscope photometer double beam analysis appts. - has chopper and comparator mirror between specimen and detector

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    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0096—Microscopes with photometer devices

Abstract

The microscope photometer is suitable for reflection and transmission measurements using the twin beam method for qualitative and quantitative analysis of chemical, biological and medical specimens. The outlet from a light source is passed through a monochromator (2) and polariser (3) from whence it is collimated by an aperture (4) and focussing lens (5). The beam is bent by a trapezium prism (6) and enters one half of an object lens (7) which focusses it onto the specimen. The reflected light is then refocussed onto a photo-multiplier detector. To simulate twin beam operation, a chopper mirror is interposed between the sample and the oject lens together with a comparator mirror either between the chopper and the lens or actually attached to the front of the lens.

Description

Mikroskopphotometer Microscope photometer

Die Erfindung betrifft ein Mikroskopphotometer, bestehend aus einem Mikroskop mit photometrischer Meßeinrichtung und Auflichtbeleuchtung zur Reflexions- und Transmissions-Messung.The invention relates to a microscope photometer, consisting of a Microscope with photometric measuring device and incident light illumination for reflection and transmission measurement.

Ein Mikroskopphotometer ist ein Mikroskop mit üblicher Optik und Ausrüstung für Auflicht- und lurchlichtbeleuchtung, das zur Intensitätsmessung der durchfallenden oder reflektierten Strahlung einer mikroskopischen Probe benutzt wird. Mikroskopphotometer, auf die sich die obengenannte Erfindung bezieht, werden für qualitative und quantitative Analysen von z.B. chemischen, biologischen und medizinischen Proben verwendet. In Verbindung mit einer Spektralanordnung kann das spektrale Verhalten der Probe bestimmt werden.A microscope photometer is a microscope with common optics and equipment for incident and transmitted light illumination, which is used to measure the intensity of the falling through or reflected radiation from a microscopic sample is used. Microscope photometer, to which the above invention relates are used for qualitative and quantitative Analyzes of e.g. chemical, biological and medical samples are used. In In connection with a spectral arrangement, the spectral behavior of the sample can be determined will.

Allgemeiner Stand der Technik speziell in der Mikroskopphotometrie sind Einstrahlmeßverfahren, bei denen die Probe durch einen Vergleichsstandard ersetst wird. Zweistrahlmeßverfahren, bei denen Probe und Vergleichsstandard nebeneinander gemessen werden können, erfordern einen hohen apparativen Aufwand oder sind nur beschränkt anwendbar.General state of the art, especially in microscopic photometry are single-jet measurement methods in which the sample is replaced by a comparison standard will. Two-beam measuring method in which the sample and comparison standard are next to each other can be measured, require a high expenditure on equipment or are only limited application.

Nachteile der Einstrahlverfahren sind die hohen Ansprüche an die Stabilität und Reproduzierbarkeit, die mit Bogenlampen nicht zu erreichen ist.Disadvantages of the single-jet method are the high demands on stability and reproducibility that cannot be achieved with arc lamps.

Aufgabe der Erfindung ist es, die Nachteile des Standes der Technik zu vermeiden und ein Mikroskopphotometer zu schaffen, das ein Zweistrahlmeßverfahren ermöglicht. Weiterhin soll eine automatische Registrierung des absoluten Reflexionsgrades von Proben ermöglicht werden.The object of the invention is to overcome the disadvantages of the prior art to avoid and to create a microscope photometer that uses a two-beam measuring method enables. Furthermore, an automatic registration of the absolute reflectance should be carried out be made possible by samples.

Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch die Maßnahmen des Anspruchs 1 gelöst.According to the invention, this object is achieved by the measures of the claim 1 solved.

Es wird die Verwendung eines Ohopperspiegels und die aus der makroskopischen Zweistrahltechnik bekannte elektronische Auswertung vorgeschlagen. Es lassen sich Transmissions- und Reflexionemessungen an einem Gerät zusammenfassen. Bei Verwendung eines Choppers zwischen Probe und Objektiv wird naturgemäß der Streulichtanteil geringer.It will be the use of a ohopper mirror and that made the macroscopic Two-beam technology known electronic evaluation proposed. It can be Combine transmission and reflection measurements on one device. Using of a chopper between the sample and the objective is naturally the proportion of scattered light less.

An einem Aus führungsbei spi el wird die Erfindung erläutert.The invention is explained using an exemplary embodiment.

Die Abbildung 1 zeigt den Strahlengang eines Auflichtmikroskops mit einer monochromatischen Beleuchtungsanordnung.Figure 1 shows the beam path of a reflected light microscope with a monochromatic lighting arrangement.

Die Blende 4 ist eine Gesichtsfeldblende, die auf der Objektfläche 8 das Meßfeld ausblendet.The diaphragm 4 is a field diaphragm that is on the object surface 8 hides the measuring field.

Für die Anwendung der Erfindung nach Anspruch 1 bis 7 ist die Art der Beleuchtungseinrichtung nicht von Bedeutung.For the application of the invention according to claims 1 to 7, Art the lighting device is not important.

Die Beleuchtung erfolgt hier z.B. über ein Berekprisma (Trapezprisma) 6. Die Apertur des Objektivs 7 nimmt zur Hälfte die Beleuchtung und zur anderen Hälfte den reflektierten Strahl auf. Die Probe 8 wird in die Ebene der Meßfeldblende 9 abgebildet und entsprechend ausgeblendet. Die Intensität der Strahlung wird üblicherweise mit einem Sekundärelektronenvervielfacher 10 aufgefangen.The lighting takes place here e.g. via a Berek prism (trapezoidal prism) 6. The aperture of the objective 7 takes half the illumination and the other half Half the reflected beam. The sample 8 is in the plane of the measuring field diaphragm 9 shown and hidden accordingly. The intensity of the radiation is customary collected with a secondary electron multiplier 10.

Die Erfindung nach Anspruch 1 sieht einen einschiebbaren Spiegel 12 vor, der den Strahlengang zwischen Objektivfrontlinse und Probe unterbricht und statt über die Probe über eine Vergleichsspiegelfläche 13 wieder dem ursprlnglichen Strahlengang zuführt. Die Lage des Spiegels 12 wird nach Anspruch 1 so eingerichtet, daß die Gesichtsfeldblendc 4 auf die Vergleichsepiegelfläehe 13 abgebildet wird.The invention according to claim 1 provides a retractable mirror 12 before, which interrupts the beam path between the objective front lens and the sample and instead of over the sample over a comparison mirror surface 13 again the original Supplies beam path. The position of the mirror 12 is set up according to claim 1 so that that the visual field diaphragm 4 is mapped onto the comparison mirror surface 13.

Die Größe dieser vergleiohsspiegelfläche wird entspreehend der Meßfeldgrdße festgelegt. Diese Spiegolfläche kann zentrisch auf die plane Fläche der Objektivfrontlinse aufgebracht, z.B. aufgedampft, sein. Die Verwendbarkeit des Objektivs für herkömmliche photometrische Messungen wird dadurch nicht beeinträchtigt. Eine Variante nach Anspruch 6 der Erfindung sieht vor, durch Veränderung der Lage des Spiegels 12 die Intensität des Vergleichsstrahlengangs durch mehrfache Reflexion zwischen dem Spiegel 12 und der Vergleichsspiegelfläche der Objektreflexion anzupassen.The size of this comparative mirror surface becomes corresponding to the measuring field size set. This mirror surface can be centered on the plane surface of the objective front lens upset, e.g. vaporized. The usability of the lens for conventional photometric This does not affect measurements. A variant according to claim 6 of the invention provides, by changing the position of the mirror 12, the intensity of the comparison beam path by multiple reflection between the mirror 12 and the comparison mirror surface adapt to the object reflection.

Nach Anspruch 5 ist es nicht notwendig, daß die Vergleichsspiegelfläche auf der Frontlinse liegt. Die Vergleichsspiegelfläche kann z.B. auswechselbar auf einer Halterung liegen.According to claim 5, it is not necessary that the comparison mirror surface lies on the front lens. The comparison mirror surface can be interchangeable, for example a bracket.

Nach Anspruch 2 der Erfindung wird der einschiebbare Spiegel 12 durch einen Chopperspiegel ersetzt. Die Auswertung des elektronischen Signals von der Reilexion an der Probe und dem Vergleichsspiegel ist Stand der Technik.According to claim 2 of the invention, the retractable mirror 12 is through replaced a chopper mirror. The evaluation of the electronic signal from the Reilexion on the sample and the comparison mirror is state of the art.

Nach Anspruch 7 der Erfindung eignet sich die Anordnung durch Ergänzung eines weiteren Objektivs 15 und Spiegel 16 auch zur Transmissionsmessung. Der Strahlengang unter der Probe kann symmetrisch sein zum oberen. Die Probe wird zweimal durchstrahlt.According to claim 7 of the invention, the arrangement is suitable by supplementation another lens 15 and mirror 16 also for transmission measurement. The beam path below the sample can be symmetrical to the upper one. The sample is irradiated twice.

Claims (7)

Patentansprüche 1. Mikroskopphotometer, bestehend aus einem Mikroskop mit photometrischer Meßeinrichtung und Auflichtbeleuchtung zur Relexions- und Uransmissionsmessung, dadurch ge kennz ei ohne t daß zwischen Obåektivfrontlinse (7) und Objekt (8) eine justierbare Spiegelanordnung (12) einschiebbar ist und daß vor der Objektivfrontlinse (7) eine Vergleichsspiegelfläche (13) angeordnet ist, derart, daß die Geometrie bzw. Abbildungsverhältnisse des ursprünglichen Strahlengangs erhalten bleiben. Claims 1. Microscope photometer, consisting of a microscope with photometric measuring device and incident light illumination for reflection and transmission measurement, as a result, there is no one between the objective front lens (7) and the object (8) adjustable mirror arrangement (12) can be inserted and that in front of the objective front lens (7) a comparison mirror surface (13) is arranged in such a way that the geometry or imaging conditions of the original beam path are retained. 2. Mikroskopphotometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die justierbare Spiegelanordnung (12) ein Chopperspiegel ist.2. Microscope photometer according to claim 1, characterized in that the adjustable mirror arrangement (12) is a chopper mirror. 3. Mikroskopphotometer nach Anspruch 1 und 2, d a du r c h g e k e n n z e i c h n e t daß die Vergleichsspiegelfläche (13) auf der Frontlinse aufgebracht ist.3. microscope photometer according to claim 1 and 2, d a du r c h g e k e n n z e i c h n e t that the comparison mirror surface (13) is applied to the front lens is. 4. Mikroskopphotometer nach Anspruch 1 und 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß die Vergleichsspiegelfläche (13) hinter der Frontlinse angebracht ist. 9 -9- 4. Microscope photometer according to claim 1 and 2, d a d u r c h g e k It is noted that the comparison mirror surface (13) behind the front lens is appropriate. 9 -9- 5. Mikroskopphotometer nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichsspiegelfläche (13) einschiebbar ist.5. microscope photometer according to claim 1 and 2, characterized in that the comparison mirror surface (13) can be pushed in. 6. Mikroskopphotometer nach Anspruch 1 bis 5, d a du r c h g e k e n n z e ich n e t daß durch Mehrfachreflexion der Reflexionsgrad des Strahlengangs nach Anspruch 1 variiert werden kann.6. microscope photometer according to claim 1 to 5, d a du r c h g e k e n n z e i n e t that through multiple reflection the degree of reflection of the beam path according to claim 1 can be varied. 7. Mikroskopphotometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mittels zusätzlichem optischen System Transmissionsmessungen möglich sind.7. microscope photometer according to claim 1, characterized in that transmission measurements are possible by means of an additional optical system.
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