DE2402405B2 - Photolumineszenz-spektralphotometer - Google Patents

Photolumineszenz-spektralphotometer

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DE2402405B2 DE19742402405 DE2402405A DE2402405B2 DE 2402405 B2 DE2402405 B2 DE 2402405B2 DE 19742402405 DE19742402405 DE 19742402405 DE 2402405 A DE2402405 A DE 2402405A DE 2402405 B2 DE2402405 B2 DE 2402405B2
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Yasushi; Tsukada Masamichi Katsuta Ohnishi (Japan)
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/44Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
    • G01J3/4406Fluorescence spectrometry

Description

Die Erfindunj betrifft ein Photolumincs/enz-Spcktralphotuniek-r mit einer Lichtquelle zum Beleuchter, einer Probe mn Primärlicht und einem Detektor zum Erfassen von von der Probe ausgehendem Lumineszenzlicht sowie mit in den Strahlengang des Lichts eingefügten Filtern und Zerhackern.
Speklralphotometer dieser Art sind in »The Review of Scientific Instruments«. Band40(19b9), auf den Seiten 271 bis 273 und in »)ournal of Physics E 1« (1968). aiii den Seilen 305 bis 310 beschrieben. Diese bekannten Spektralphotometer ermöglichen die Aufnahme des in einer zu untersuchenden Probe durch deren Bestrahlung mit Primärlicht ausgelösten Fluoreszcnzlichtemission. sie gestatten bei jeder Messung jedoch nur eine Auflösung der Lumineszenzstrahlung entweder nach der Zeit oder nach der Wellenlänge.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Spektralphotometer der eingangs erwähnten An so auszubilden, daß es in einem einzigen Votgang «.lic selektive Messung mehrerer von einer Probe ausgehender Lumineszenzlichtemissionen und insbesondere eine Aufzeichnung von Phosphoreszenzlicht mit einet Abklingzeil im ms-Bereich ermöglicht.
Die gestellte Aufgabe wird erfindungsgcmiiß dadurch gelöst, daß in die Verbindung zweier drehbarei Zerhacker, von denen der eine im Wege dei Primärlichts und der andere im Wege des Lumineszenzlichts liegt, mit ihrem Antriebsmotor ein Phasenschieber eingefügt ist. der eine Änderung der Phasenlage dei beiden Zerhacker relativ zueinander in Abhängigkeil von der Art des vom Detektor zu erfassender Lumineszenzlichts gestattet.
Das erfindungsgemäß ausgebildete Speklralphotometer ermöglicht eine Auswahl in dem von der Probe ausgehenden Lumineszenzlicht nach Fluoreszenzlich1 und Phosphoreszenzlicht, wobei im ersten Falle be einer Phasenverschiebung von 90' zwischen den beidet Zerhackern der Wellenlängeiuinterschied /wischer I luoreszeri/licht und Phosphoreszenzlicht als Auswahl krilerium dient, während im zweiten Fall bei glcichpha sigem Betrieb der beiden Zerhacker der Unterschied in zeitlichen Abklingverhalten von Phosphoreszenzlich gegenüber Fluoreszenzlicht ausgenutzt wird.
Als weitere Vorteile des erfindungsgemäß ausgebil delcn Spektralphotometers sind insbesondere zi
nerven, daß es eine vollständige Eliminierung des Einflusses der Lichtquelle und des die Probe enthaltenden Lösungsmittels auf den Meßvorgang gesittet und außerdem auch Messungen an stark absorbierenden Proben ermöglicht. S
Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung sind im einzelnen in Unteransprüchen gekennzeichnet.
In der Zeichnung ist die Erfindung an Hand bevorzugter Ausführungsbeispiele veranschaulicht: es zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild für ein erstes, als tinstrahl-Spektralphotometer ausgebildetes Auslührungsbeispiel,
Fig.2 den Aufbau des optischen Systems für ein zweitem als Zweistrahl-Spektralphotometer ausgebildetes Ausführungsbeispiel,
Fig. 3 ein der Darstellung in Fig. 1 einsprechendes Blockschaltbild für das Ausführungsbeispiel von F i g. 2.
Fig. 4a und 4b zwei Varianten für ein Detail im Bezugsstrahlengang bei den Ausführungsbeispiel von F i g. 2 und
Fig. 5a und 5b zwei Darstellungen zur \ ciar-vhauli- chung der unterschiedlichen Phasenlagen Mr ilen Betrieb der Zerhacker bei den Spektralphoiomeiern nach F i g. 2 und 3.
Das in Fig. 1 in Form eines Blockschaltbildes dargestellte Spektralphotometer besitzt eine Liclnquc' le I. ein erstes Spektroskop 3 zum Einstellen des von der . Lichtquelle 1 emittierten Primiirlichts auf eine bestimmie Wellenlänge und einen ersten Zerhacker 14 (vgl. F 1 g. 5a und 5b) zum wahlweisen Bestrahlen einer hohe 19 mit Primärlicht aus dem Spektroskop 3. Im Anschluß an die Probe 19 ist in den Strahlengang des \ on diese; ausgehenden Lumineszenzlichts ein zweiter Zerhacker 27 eingefügt, der ebenso wie der erste Zerhacker 14 durch einen Antriebsmotor 38 in Drehuni: versetzt werden kann, wobei ein eingefügter Phasenschieber 46 eine Änderung der gegenseitigen Phasenlage für die beiden Zerhacker 14 und 27 ermöglicht. Auf den zweiten Zerhacker 27 folgt im Strahlengang des Lumineszenzlichts ein zweites Spektroskop 30, das eine Wellenlängenauswahl für das Lumineszenzlicht ermöglicht, bevor dieses zu einem Detektor 36 gelangt.
Das in Fig. I dargestellte Spektralphotometer gestattet die Erfassung sowohl von Fluoreszenzlicht als auch von Phosphoreszenzlicht in der von der Probe 19 ausgehenden Lumineszenzlichtemission.
Für die Messung von Fluoresz.enzlicht wird bei einer in Fig. 5a und 5b veranschaulichten Form für die Zerhacker 14 und 27 der Phasenschieber 46 so eingestellt, daß der relative Phasenwinkel zwischen den Zerhackern 14 und 27 90° beträgt, wie dies in F'i g. 5a dargestellt ist. Die von der Lichtquelle 1 emittierte Strahlung wird durch das erste Spektroskop 3 in Primärlicht einer spezifischen Wellenlänge umgewandelt und durch den Zerhacker 14 hindurch auf die Probe 19 gerichtet. Infolge der Anregung durch dieses Primärlicht emittiert die Probe 19 sowohl Fluoreszc /■ licht als auch Phosphorcszcnzlicht, und beide l.umineszenzlichtcmissionen vermögen wegen der relativen Phasenverschiebung von 90'' zwischen den beiden Zerhackern 14 und 27 den zweiten Zei hacker 27 /11 passieren und gelangen damit zum zweiten Spektroskop 30, das seinerseits eine solche Wellenlängenauswahl bewirkt, daß der Detektor 36 nur das Fluoreszenzlichi zugeführt erhält.
Für die Messung von Phosphoreszenzlicht wird der
Phasenschieber 46 so eingestellt, daß die beiden Zerhacker 14 und 27 phasengleich arbeiten, wie dies in F i g. 5b gezeigt ist. Wenn dann das durch den Zerhacke;· 14 hindurch auf die Probe 19 gerichtete Primärlicht die Probe 19 zur Emission von Fluoresz.enzlicht und Phosphoreszenzlicht anregt, unterbricht der zweite Zerhacker 27 den optischen Strahlengang zum Detektor 36, so daß dieser weder Fluoreszenzlicht noch Phosphoreszenzlicht erfaßt. Nach einer Drehung der beiden Zerhacker 14 und 27 aus dieser ersten Lage um 90° nimmt die reflektierende Platte des ersten Zerhackers 14 die in Fig. 1 gestrichelt dargestellte Stellung ein, so daß das Primärlichl nicht mehr über den Zerhacker 14 auf die Probe 19 reflektiert wird. Gleichzeitig nimmt die reflektierende Platte des zweiten Zerhackers 27 ebenfalls die in Fig.! gestrichelt dargestellte Stellung ein, und das auf Grund der vorangehenden Priinärliehteinstrahhing von der Probe 19 emittierte Phosphoreszenzlicht κ.mn ohne '. ίκτΙμο chung durch den Zerhacker 27 über das Spektroskop *0 zum Detektor 36 gelangen. Das durch das Primärlichl außerdem angeregte l'luores/enzlichi der Probe 14 ist /u diesem Zeitpunkt wegen seiner im Vergleich zu Phosphores/.enzlichl kürzeren Abklingzeii bereits wie-Jd \ erlöscht. Der Detektor 56 wird also nur mit Phosphoreszenz licht beaufschlagt.
Fine einfache Änderung der relativen Phasenlage /wischen den beiden Zerhackein 14 und 27 ermöglicht also in einem einzigen Mcl.Uorgang eine selektive F.rlassung sowohl der Fluoreszenzliehtemission als auch der Phosphoresz.enzlichtemission der Probe 19 m'olge dci cn Bestrahlung mit dem Primärlichi \ ><·.■■ der Lichtquelle 1.
Das oben in Verbindung mit F" ig. I beschriebene Auslührungsbeispiel ist ein F.instrahl-Spekir.iiphi.tometcr. Für eine Analyse mit höherer Genauigkeit imd tür die Absorptionspholometrie werden jedoch ui:/u;jv \veise Zweislrahl-Spekiralphoiomeier verwendet. Lm Ausführungsbeispiel für ein solches Spekiralphoiomeicr ist in seinem optischen Aufbau in F 1 g. 2 und im übrigen in F i g. 3 dargestellt, wobei zur Bezeichnung gleicher Bauteile wie in F i g. 1 wieder die gleichen Be/ngs/ahlcn verwendet sind.
Bei dem AuMührungsbeispiel nach 1 i g. 2 wird die von der Lichtquelle I ausgehende Strahlung muli Reflexion an einem Spiegel 2' dem ersten Spektroskop 5 zugeführt, das bei diesem Auslülirungsheispic; einen Lintrittsspalt 4', einen Kollimator 5'. cm Prisma 6 einen Kollimator 7, einen Zwischenspall 8. einen Kollimator 9. ein Dispersionsgitter 10. einen Kollimator 11 und einen Austrittsspalt 12 aufweist. Nach dem Durchgang durch den Lintrittsspalt 4' und den Kollimator V wird das Licht durch das Prisma 6' zerlegt, wobei gleichzeitig Streulicht unterdrückt wird. Über den Kollimator 7. ilen Zw ischcnspalt 8 und den Kollimator 9 gelangt so monochromatisches Licht /um Dispersionsmittel' 10. Dieses monochromatische Licht wird durch das Dispersionsfilter 10 zn legt und über den Kollimator 11 und den Auslnusspah 12 sowie einen dem Spektroskop 3 naehgeschaheten Spiegel H auf ilen Zerhacker 14 gerichtet, der dieses Primärlicln abwechselnd einem piobenscitigen Strahlengang 15 und oiu-m he/ugsseiti gen Strahlengang 16 zuordnet.
Im probenseiligen Strahlengang 15 wird das P:unarlichi über Spiegel 17 und 18 auf die Probe i9 gerichtet, die den /u untersuchenden Stoff in einem Lösungsmittel gelöst enthält. Unter der Einwirkung des Primarlichi-> kommt es an der Probe 19 zur Emission von
Lumineszenzlichi, nämlich Fiuoreszcn/.licht und Phosphoreszenzlicht, und dieses Lumineszenzlichi wird als Probenstrahlung über Spiegel 20 und 21 dem /weiten Zerhacker 27 zugeführt.
Im bezugsseitigen Strahlengang 16 wird das Primärlicht über Spiegel 22 und 23 auf eine mit reinem Lösungsmittel gefüllte Küvette 24 gerichtet, und anschließend gelangt diese Bezugsstrahlung über Spiegel 25 und 26 zum zweiten Zerhacker 27.
Im Anschluß an den zweiten Zerhacker 27 durchlaufen die Probenstrahlung vom Strahlengang 15 und die Bezugsstrahlung vom Strahlengang 16 abwechselnd einen Strahlengang 28, auf den sie über einen Spiegel 29 zum zweiten Spektroskop 30 gelangen. Dieses zweite Spektroskop, das wiederum der Gewinnung von monochromatischem Licht aus dem auftreffenden Fluoreszenzlicht dient, besieht bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel aus einem Eintrittsspalt 31, einem Kollimator 32, einem Gitter 33, einem Kollimator 34 und einem Austrittsspalt 35, über den das monochromatische Licht zum Detektor 36 gelangt.
Die Darstellung in Fig. 3 zeigt den Drehantrieb der beiden Zerhacker 14 und 27 durch den Antriebsmotor 38, wobei der zwischengeschaltcte Phasenschieber 46 wiederum eine selektive Einstellung der relativen Phasenlage für die beiden Zerhacker 14 und 27 gestattet. Zusätzlich ist in F i g. 3 eine Scheibe 39 mit mehreren Schlitzen vorgesehen, die sich synchron mit den Zerhackern 14 und 27 dreht und der ein Stcucrsignalger.erator 40 aus einer Lichtquelle und einem Detektor zugeordnet ist, die zu beiden Seiten der Scheibe 39 angeordnet sind und durch deren Schlitze hindurch iniieincinander zusammenwirken können. Ein Drehknopf 41 ermöglicht eine Einstellung des Stcucrsignalgenerators 40 relativ zur Scheibe 39, d. h. eine Einstellung von Lichtquelle und Detektor des Stcucrsignalgcncrators relativ zu den Schlitzen in der Scheibe 3«?. Der Drehantrieb für den Steuersignalgcnerator 40 erfolgt über eine elektromagnetische Kupplung von einem Motor 42. der außerdem über elektromagnetische Kupplungen 44 und 45 mit dem ersten Spektroskop 3 bzw. dem zweiten Spektroskop 30 in Verbindung gebracht werden kann.
Bei einer Wellenlängenabtastung in der Weise, daß das erste Spektroskop 3 über die elektromagnetische Kupplung 44 mit dem Motor 42 verbunden wird, die elektromagnetische Kupplung 45 dagegen ausgerückt und das zweite Spektroskop 30 auf eine spezifische Wellenlänge eingestellt ist läßt sich das Anregungsoder Emissionsspektrum messen. Bei einer Wellenlängenabtastung ir der Weise, daß das zweite Spektroskop üb?r die elektromagnetische Kupplung 45 mit dem Motor 42 verbunden ist, die elektromagnetische Kupplung 45 ausgerückt und das erste Spektroskop 3 auf eine spezifische Wellenlänge eingestellt ist. kann dann eine Messung des Fluoreszenzspektrums erfolgen.
Wenn im letzten Fall eine in der Zeichnung nicht eigens dargestellte Registriereinrichtung ein Differenzsignal aus einem auf die Bezugsstrahlung von der mit reinem Lösungsmittel gefüllten Küvette 24 zurückgehenden elektrischen Signal einerseits und einem auf die Flüoreszenzstrahlung von der Probe 19 zurückgehenden elektrischen Signa] andererseits zugeführt erhält kann das auf das Lösungsmittel in der Probe 19 zurückgehende Fluoreszenzficht durch das Fluoreszenzlicht aas der nur Lösungsmittel enthaltenden Küvette 24 kompensiert werden.
Dazu kann beispielsweise gemäß Fig.4a eine mit
Rhodamin B, einem bei der Lichtquantenmessung häufig verwendeten Vitalfarbstoff, gefüllte dreieckige Zelle 47 bezugsseitig relativ zum Primärlicht angeordnet und das vom Rhodamin B emittierte Fluoreszenzlichi durch einen Detektor 37 (F i g. 2) aufgefangen werden. Unter Aufzeichnung des Verhältnisses zwischen dem Ausgangssignal des Detektors 37 und dem Ausgangssignal des Detektors 36 in einer in der Zeichnung nicht dargestellten Registriereinrichtung auf der Grundlage
ίο der Fluoreszenz von der Probe 19 kann dann das Anregungs- oder Emissionsspektrum für die Probe 19 erhalten werden.
In diesem Falle entspricht die Phasenbeziehung zwischen den beiden Zerhackern 14 und 27 im probenseitigen Strahlengang 15 einer relativen Phasenverschiebung um 90° (F i g. 5a).
Soll die Phosphorcszenzslrahlung gemessen werden. so werden die beiden Zerhacker 14 und 27 im probenseitigen Strahlengang 15 durch entsprechende
ίο Einstellung des Phasenschiebers 46 (Fig. 3) auf phasenglevhen Betrieb eingestellt (Fig. 5b). Während dann die Probe 19 über den Zerhacker 14 mit Primärlicht aus dem ersten Spektroskop 3 bestrahlt wird, passiert das eine im Vergleich zum Phosphorcs-
2$ zenzlicht kürzere Abklingzeit aufweisende Fluoreszenzlicht den Zerhacker 27. In der nächstfolgenden Drehstellung der beiden Zerhacker 14 und 27. in der das Primärlicht aus dem Spektroskop 3 für die Probe 19 durch den Zerhacker 14 unterbrochen wird, gibt der zweite Zerhacker 27 nur Phosphoreszenzlicht, das eine längere Abkling/eit als Fluoreszenzlicht aufweist und daher von der Probe 19 nur noch allein emittiert wird, über das zweite Spektroskop 30 an den Detektor 36 weiter. Unter Abtastung der Wellenlänge am zweiten Spektroskop 30 unter Antrieb durch den Motor 42 über die elektromagnetische Kupplung 45 kann dann das Spektrum des Phosphoreszcn/liehtes aufgenommen werden.
Werden die elektromagnetischen Kupplungen 44 und 45 /wischen dem Motor 42 und den Spektroskopen 3 und 30 unter Festhalten von deren Wellenlänge ausgerückt und wird statt dessen das Drehmoment des Motors 42 über die elektromagnetische Kupplung 43 auf den Steuersignalgencrator 40 übertragen, so daß dieser eine langsame Drehbewegung ausführt, so kann die Abtastzeil für das Phosphoreszenzliehtspektrum so geändert werden, daß sich eine Extinktionskurve der Abklingzeit des Phosphoreszenzlichtes aufzeichnen läßt. In diesem Fall kann die Drehgeschwindigkeit der
beiden Zerhacker 14 und 27 in Abhängigkeit von der Abkling/eit für die jeweils zu untersuchende Probe 19 geändert werden. Beträgt beispielsweise die Drehzahl des Antriebsmotors 38 für den Drehantrieb der beiden Zerhacker 14 und 27 1500 U/min, so läßt sich Phosphoreszenzlicht mit einer Abklingzeit von etwa 10 ms aufzeichnen.
Wenn unter Einstellung des Steuersignalgenerators 40 mit Hilfe des Knopfes 41 auf einen bestimmten Schlitz in der Scheibe 39 ein Phosphoreszenzlichtspek trum gemessen wird, so kann ein zeitlich analysiertes
Spektrum zu einem eine bestimmte Zeit nach der Unterbrechung des Primärlichtes durch den ersten Zerhacker 14 liegenden Zeitpunkt erhalten werden. Werden in Fig.3 an den der Probe 19 bzw. der
«5 Küvette 24 entsprechenden Stellen in der in Fig.4b gezeigten Weise Spiegel 48 angeordnet und an den durch strichpunktierte Linien angedeuteten Stellen 19' und 24' Absorptionszellenhalter vorgesehen, so kann
eine Absorptionsmessung durchgeführt werden. Wenn weiter durch gleichzeitiges Einrücken der elektromagnetischen Kupplungen 44 und 45 gleichzeitig im ersten Spektroskop 3 und im zweiten Spektroskop 30 eine Wellenlängenabtastung bewirkt wird, läßt sich das Streulicht weitgehend verringern, da dann das Prisma 6' und die beiden Gitter 10 und 33 einen sogenannten Tripel-Monochromator mit drei Dispersionselementen bilden, mit dessen Hufe Absorptionsmessungen auch für stark absorbierende Substanzen möglich sind. Da außerdem das den Zerhacker 27 passierende Licht dem Detektor 36 über das Spektroskop 30 zugeführt wird, läßt sich ein durch Fluoreszenzlicht nicht beeinflußtes echtes Absorptionsspektrum auch dann erhalten, w^nn die Probe 19 Fluoreszenzlicht emittiert. Weiterhin ist die Verwendung einer Lichtquelle 1 möglich, die. wie beispielsweise eine Xenonlampe, kontinuierliches Licht hoher Intensität in einem Wellenlängenbercich zwischen 200 und 1000 um emittiert, so daß mit nur einer einzigen Lichtquelle gearbeitet und eine sonst übliche Umschaltung zwischen mehreren Lichtquellen für bestimmte Wellcnlängenbereiche vermieden werden kann.
Die zuletzt beschriebene Ausfiihrungsform bietet u. a. folgende Vorteile:
1) Der Einfluß des Lösungsmittels auf das Meßergebnis, der bei üblichen Einsirahl-Photolumineszenz-Spektralphoiomctern geben kann, wird durch die Verwendung einer Zweistrahl-Anordnung ausgeschaltet.
2) [".ine Messung von Phosphoreszenzlicht is. einfach dadurch möglich, daß die Phasenbe/.iehiing /wischen den Zerhackern über den Phasenschieber geändert wird, ohne daß Zusatzgeräte, wie sie bisher in Form zylindrischer Zerhacker und an der Probenkammer befestigter Motoren üblich sind, notwendig waren.
3) Mn Hilfe eines einfachen Stcuersignalgenerators läßt sich eine bisher nicht durchführbare Aufzeichnung der Abklingzeit des Phosphoreszenzlichtes in der Größenordnung von ms erhalten.
4} Durch die Verwendung eines Tripel-Monochromators sind Messungen auch an Proben möglich, die so stark absorbieren, das sie sich mit den bisherigen Vorrichtungen nicht untersuchen ließen.
Die Änderung der Drehgeschwindigkeit für die Zerhacker 14 ui,d 27 kann in verschiedener Weise erfolgen, beispielsweise kann ein Servomotor benutzt werden, dessen Speisespannung geändert wird, oder es kann ein Synchronmotor verwendet werden, bei dem das Übersetzungsverhältnis im Wechselgetriebe geändert werden kann.
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen 609 547/374

Claims (14)

Patentansprüche:
1. Photolumineszenz-Spektralphotometer mit einer Lichtquelle zum Beleuchten einer Probe mit Primärlicht und einem Detektor zum Erfassen von von der Probe ausgehendem Lumineszenzlicht sowie mit in den Strahlengang des Lichts eingefügten Filtern und Zerhackern, dadurch gekennzeichnet, daß in die Verbindung zweier drehba- rer Zerhacker (14, 27), von denen der eine im Wege des Primärlichts und der andere im Wege des Lumineszenzlichts liegt, mit ihrem Antriebsmotor (38) ein Phasenschieber (46) eingefügt ist, der einr Änderung der Phasenlage der beiden Zerhacker relativ zueinander in Abhängigkeit von der Art des vom Detektor (36) zu erfassenden Lumineszenzlichts gestattet.
2. Speklralphotometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Zerhacker (14, 27) über den Phasenschieber (46) für die Messung von Phosphoreszenzlicht zu gleichphasigem Betrieb und für die Messung von Fluoreszenzlicht zu einem Beirieb mit einer relativen Phasenverschiebung von 90 einstellbar sind.
3. Spekiralphotomeier nach Anspruch 1 oder 2. dadurch gekennzeichnet, daß in den Weg des Primärlichts zwischen Lichtquelle (I) und Probe (19) ein erster Monochromator eingefügt ist.
4. Spektralphotometer nach Anspruch 3. dadurch gekennzeichnet, daß der erste Monochromator als selektiv arbeitendes Filter ausgebildet ist.
5. Spektralphoiometer nach Anspruch 3. dadurch gekennzeichnet, daß der erste Monochromator ein erstes Spektroskop (3) zum Zerlegen des Primärlichts enthält.
6. Spektralphoiometer nach Anspruch 5. dadurch gekennzeichnet, daß das erste Spektroskop (3) ein Prisma (6') und ein Dispersionsgitter (10) als Dispersionselemenie für das Primärlicht enthält.
7. Speklralphotometer nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß in den Weg des Lumineszen/Iichts vor dem Detektor (36) ein zweiter Monochromator eingefügt ist.
8. Spektralphotometer nach Anspruch 7. dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Monochromator ein zweites Spektroskop (30) zum Zerlegen des Liimines/enzlichts enthält.
9. Spektralphotometer nach Anspruch 8. dadurch gekennzeichnet, daß das zweite Spektroskop (30) ein Dispersionsgiltcr (33) als Dispersionselement enthält.
10. Spektralphoiometer nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Zerhacker (14) das Primärlicht abwechselnd einem Probenstrahlengang (15) und einem Uezugsstrahlengang (16) zuordnet und der zweite Zerhacker (27) einen nachfolgenden Strahlengang (28) abwechselnd von dem Probenlicht aus dem Probenstrahlcngang (15) und dem lle/ugslieht aus Άιη Bezugsstrahlengang (16) durchlaufen läßt.
11. Spektralphotomeier nach einem der Ansprüche i l)is 10. dadurch gekennzeichnet, daß der erste und/oder der /.weile Monochromator (3 b/w. 30) zur Wellenlängenabtastung durch einen Motor (42) verstellbar ist.
12. Speklralphotometer nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß in die Verbindung zwischen dem Motor (42) und dem eisten Monochromator (3) bzw. dem zweiten Monochromator (30) je eine Kupplung (44 bzw. 45) eingefügt ist.
13. Spektralphotometer nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (1) eine Xenonlampe ist, die kontinuierliches Licht hoher Intensität im Wellenlängenbereich zwischen 200 und 1000 nm abstrahlt.
14. Spektralphotometer nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß mit dem ersten und dem zweiten Zerhacker (14 und 27) eine mehrere Schlitze enthaltende Scheibe (39) zu synchroner Drehbewegung gekoppelt ist, der ein Steuersignalgenerator (40) aus einer Lichtquelle und einem Detektor zugeordnet ist, die einander gegenüberstehend zu beiden Seiten der geschlitzten Scheibe an der Stelle eines der Schlitze in der Scheibe angeordnet sind.
DE19742402405 1973-01-20 1974-01-18 Photolumineszenz-Spektralphotometer Expired DE2402405C3 (de)

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JP48008958A JPS4997675A (de) 1973-01-20 1973-01-20
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Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2402405A1 DE2402405A1 (de) 1974-07-25
DE2402405B2 true DE2402405B2 (de) 1976-11-18
DE2402405C3 DE2402405C3 (de) 1977-08-18

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ID=

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2656417A1 (de) * 1975-12-11 1977-07-07 White John U Vorrichtung zur messung der strahlung einer probe

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2656417A1 (de) * 1975-12-11 1977-07-07 White John U Vorrichtung zur messung der strahlung einer probe

Also Published As

Publication number Publication date
JPS4997675A (de) 1974-09-14
US3886363A (en) 1975-05-27
DE2402405A1 (de) 1974-07-25

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