DE102005019510A1 - Contour data detection method, e.g. for use in dentistry, involves determining position of signal extraction surface relative to object, and conflating light beam reflected from object in beam splitter - Google Patents
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Abstract
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Erfassung von Konturdaten dreidimensionaler Objekte, insbesondere semitransparenter Objekte wie Zähne durch Anwendung einer Interferenz- und/oder Autokorrelationsmessung mit zumindest einer Lichtquelle kurzer Kohärenzlänge sowie auf eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens.The The invention relates to a method for acquiring contour data three-dimensional objects, in particular semitransparent objects such as Teeth through Using an interference and / or autocorrelation measurement with at least one light source of short coherence length and to a device to carry out of the procedure.
Ein
Verfahren der oben genannten Art ist beispielsweise in der
In dem Aufsatz von Prof. Dr. G. Häusler: "„KOHÄRENZRADAR" – ein optischer 3D-Sensor mit einer Genauigkeit von 1 μm", INFO BÖRSE LASER, Nr. 36/April 1999, VDI Technologiezentrum, wird ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Vermessung einer Oberflächengestalt beschrieben. Das Messprinzip beruht auf Weißlicht-Interferometrie, wobei durch eine besondere Beleuchtung gezielt lokale Speckle erzeugt werden, so dass sich auch verschiedenste optisch raue Objekte, wie gefräste Flächen oder Gummi, sogar menschliche Haut, interferometrisch vermessen lassen. Nach dem Verfahren vergleicht man im Prinzip die Weglänge des Lichtes für jeden Objektpunkt mit der Länge des korrespondierenden Referenzweges im Interferometer. Nur wenn die Weglängen annähernd gleich sind, entsteht ein Interferenzkontrast im entsprechenden Bildpunkt. Während der Sensor sich auf das Objekt zubewegt, wird der Zeitpunkt des maximalen Interferenzkontrastes für jeden Bildpunkt individuell bestimmt und die jeweilige Sensorposition abgespeichert.In the essay by Prof. dr. G. Häusler: "" KOHÄRENZRADAR "- one optical 3D sensor with an accuracy of 1 μm ", INFO BÖRSE LASER, No. 36 / April 1999, VDI Technology Center, will be a procedure and a Device for measuring a surface shape described. The Measuring principle is based on white light interferometry, with a special lighting specifically generates local speckle be, so that also a variety of optically rough objects, such as milled surfaces or rubber, even human skin, measured interferometrically to let. After the procedure one compares in principle the path length of the Light for every object point with the length of the corresponding reference path in the interferometer. Only if the path lengths nearly are the same, an interference contrast arises in the corresponding Pixel. While the sensor moves towards the object, the time of the maximum interference contrast for each pixel individually determined and stored the respective sensor position.
Aus
der
In
der
Die beschriebene Vorrichtung zur Erfassung einer Oberflächentopologie eines Bereichs einer dreidimensionalen Struktur umfasst eine Probe mit einer abzutastenden Kontur. Ferner ist eine Lichtquelle zur Erzeugung eines Arrays einfallender Lichtstrahlen, welche zu der Struktur entlang eines optischen Pfads übertragen werden, vorgesehen, um Leuchtpunkte auf dem Bereich zu erzeugen. Eine Licht fokussierende Optik definiert eine oder mehre Fokalebenen vor der Probenstruktur in einer Position, die durch die Optik veränderbar ist. Jeder Lichtstrahl hat seinen Fokus auf einer der mehren Fokalebenen. Des Weiteren ist ein Verschiebungsmechanismus mit der Fokusoptik gekoppelt, um diese relativ zu der Struktur entlang einer Achse, die durch die einfallenden Lichtstrahlen definiert ist, zu verschieben. Des Weiteren ist ein Detektor vorgesehen, mit einem Array von Sensorelementen zur Messung der Intensität jedes einer Vielzahl von Lichtstrahlen, die von den Leuchtpunkten entgegengesetzt zu dem einfallenden Licht reflektiert werden. Ein Prozessor ist mit dem Detektor gekoppelt, um für jeden Lichtstrahl eine leuchtpunktspezifische Position zu ermitteln. Da ein reflektierter Lichtstrahl die Maximalintensität erreicht, wenn sich die Reflektionsposition in der Fokalebene befindet, kann damit seine spezifische Position ermittelt werden. Auf der Basis der ermittelten leuchtpunktspezifischen Positionen werden Daten der Topologie des Bereiches erzeugt.The described device for detecting a surface topology a region of a three-dimensional structure comprises a sample with a contour to be scanned. Furthermore, a light source for Generation of an array of incident light rays, which to the Structure are transmitted along an optical path, provided, to create luminous spots on the area. A light focusing Optics defines one or more focal planes in front of the sample structure in a position that is changeable by the optics. Every ray of light has its focus on one of the multiple focal planes. Furthermore a displacement mechanism is coupled to the focus optics to this relative to the structure along an axis passing through the incident Beams of light is defined to shift. Furthermore, one is Detector provided with an array of sensor elements for measurement the intensity each of a variety of light rays coming from the illuminated points be reflected opposite to the incident light. One The processor is coupled to the detector to provide a light spot specific for each light beam Position to determine. Since a reflected light beam reaches the maximum intensity, if the reflection position is in the focal plane, can so that its specific position can be determined. On the base The determined luminaire - specific positions are data of the Topology of the area generated.
Durch
Anwendung einer aus der oben genannten
Davon ausgehend liegt der vorliegenden Erfindung das Problem zugrunde, eine Vorrichtung und ein Verfahren der eingangs genannten Art dahingehend weiterzubilden, dass die Genauigkeit der Oberflächenerfassung verbessert wird.From that Based on the present invention, the problem is based a device and a method of the type mentioned above to further develop that the accuracy of the surface detection is improved.
Das
Problem wird durch ein Verfahren dadurch gelöst,
dass ein Strahlenbündel paralleler
Lichtstrahlen erzeugt wird,
dass das Strahlenbündel durch
einen Strahlteiler geführt
und über
eine Fokussieroptik auf das Objekt geleitet wird,
dass in dem
Strahlteiler aus dem Strahlenbündel
ein Referenzstrahl abgespalten und von einem in axialer Richtung
verschiebbaren Referenzspiegel reflektiert und über die Fokussieroptik auf
das Objekt geleitet wird,
dass mit Verschieben des Referenzspiegels
eine Position einer Signalgewinnungsfläche relativ zu dem Objekt festgelegt
wird,
dass beim Durchfahren der Signalgewinnungsfläche durch
das Objekt zeitlich und räumlich
veränderte
Signalmuster erfasst werden und
dass die von dem Objekt reflektierten
Lichtstrahlen in dem Strahlteiler zusammengeführt und in dem Bildsensor überlagert
werden.The problem is solved by a method in that
that a beam of parallel light beams is generated,
that the beam is guided through a beam splitter and directed to the object via focusing optics,
a reference beam is split off from the beam in the beam splitter and reflected by a reference mirror, which is displaceable in the axial direction, and is guided onto the object via the focusing optics,
in that, with displacement of the reference mirror, a position of a signal acquisition surface relative to the object is determined,
that when passing through the signal acquisition surface by the object temporally and spatially altered signal patterns are detected and
in that the light beams reflected from the object are brought together in the beam splitter and superimposed in the image sensor.
Nachdem
Stand der Technik in Form der
Bei der Lichtquelle kann es sich um weißes Licht handeln. Alternativ kann das Licht auch von zumindest einer superlumineszenten Diode oder einem Array aus einzelnen oder mehreren superlumineszenten Dioden oder zumindest einer breitbandigen Hochleistungsleuchtdiode oder einem Array aus einzelnen oder mehreren relativ breitbandigen Hochleistungsleuchtdioden erzeugt werden. Ebenso ist eine Kombination mehrerer Laserdioden mit gegeneinander versetzter Zentralwellenlänge möglich, wobei ein Wellenlängenversatz im Bereich von 5 – 150 nm, bevorzugt im Bereich von 10 – 50 nm liegen kann.at the light source may be white light. alternative The light may also be from at least one super-luminescent diode or an array of single or multiple superluminescent ones Diodes or at least a broadband high power light emitting diode or an array of single or multiple relatively broadband High power LEDs are generated. Likewise is a combination multiple laser diodes with mutually offset central wavelength possible, wherein a wavelength offset in the range of 5 - 150 nm, preferably in the range of 10 - 50 nm.
Vorzugsweise liegt die Kohärenzlänge lc der verwendeten Lichtquellen im Bereich 2 ≤ lc ≤ 20 μm, bei einer Emissionsleistung PE der Lichtquellen im Bereich 1 ≤ PE ≤ 100 mW vorzugsweise 3 ≤ PE ≤ 50 mW.The coherence length l c of the light sources used is preferably in the range 2 ≦ l c ≦ 20 μm, with an emission power P E of the light sources in the range 1 ≦ P E ≦ 100 mW, preferably 3 ≦ P E ≦ 50 mW.
Abweichend vom Stand der Technik können nach dem erfindungsgemäßen Verfahren sowohl Oberflächen- als auch Tiefeninformationen, und zwar durch Auswahl der geeigneten Wellenlänge, bei der der Streukoeffizient des Objekts entsprechend hoch oder niedrig ist, gewonnen werden.deviant from the prior art can after the method according to the invention both surface as well as depth information, by selecting the appropriate one Wavelength, in which the scattering coefficient of the object is correspondingly high or is low, won.
Gemäß einer bevorzugten Verfahrensweise ist vorgesehen, dass Licht kurzer Kohärenzlänge einer einzelnen oder mehrerer Lichtquellen über einen Beamexpander aufgeweitet und auf ein Linsenarray projiziert wird, das daraus eine Vielzahl paralleler Einzelstrahlen erzeugt. Die parallelen Einzelstrahlen laufen durch einen Strahlteiler, einen Beamshifter und über eine axial verschiebbare Fokussieroptik zum Objekt, dessen Geometriedaten gemessen werden sollen. Der Beamshifter dient dazu, das Strahlenbündel um Bruchteile des Abstands zwischen zwei Einzelstrahlen zu verschieben, um so die Auflösung zu erhöhen. In der bevorzugten Ausführungsform ist der Beamshifter als planare Platte ausgebildet, die senkrecht zur Strahlrichtung in X- und Y-Richtung leicht verkippt werden kann. Im Strahlteiler wird ein Referenzstrahl aufgespalten und an einem Referenzspiegel reflektiert. Der Referenzspiegel ist in axialer Richtung verschiebbar angeordnet und legt mit der Länge eines Referenzarms eine Signalgewinnungsfläche, Idealerweise eine Ebene, in einem Messarm des Interferometers fest. Diese kann identisch sein mit der Fokusebene der Fokussieroptik, kann jedoch auch von dieser ver schieden sein, um weitere Informationen zum Streuverhalten des semitransparenten Objekts für die anschließende Bildverarbeitung zu gewinnen.According to one preferred procedure is provided that light short coherence length of a one or more light sources spread over a Beamexpander and projected onto a lens array, which makes it a variety generated parallel single beams. The parallel single beams run by a beam splitter, an beam shifter and an axially displaceable Focusing optics to the object whose geometry data are measured should. The beam shifter serves to move the beam around To shift fractions of the distance between two individual beams, so the resolution too increase. In the preferred embodiment the Beamshifter is designed as a planar plate, the vertical to the beam direction in the X and Y directions can be easily tilted. In the beam splitter, a reference beam is split and on a Reference mirror reflected. The reference mirror is in the axial direction slidably arranged and lays with the length of a reference arm Signal acquisition area, Ideally, a plane stuck in a measuring arm of the interferometer. This can be identical to the focal plane of the focusing optics, However, it can also be different from this for more information to the scattering behavior of the semitransparent object for the subsequent image processing to win.
Auf dem Rückweg vom Objekt werden im Strahlteiler beide Lichtpfade zusammengeführt und in dem Detektor überlagert. Liegen die Weglängenunterschiede des Referenzarms und des Messarms im Bereich der Kohärenzlänge der verwendeten Lichtquelle zeigen sich bei axialer Bewegung des Referenzarmspiegels Maxima und Minima auf dem Detektor.On the way back From the object both light paths are merged in the beam splitter and into superimposed on the detector. Are the path length differences of the reference arm and the measuring arm in the range of the coherence length of the used light source show up with axial movement of the Referenzarmspiegels Maxima and minima on the detector.
Gemäß einer alternativen Ausführungsform kann die Vielzahl von Einzelstrahlen direkt in einem VCSEL-Array erzeugt werden. Dies hat den Vorteil der einzelnen Adressierbarkeit der Einzelstrahlen.According to one alternative embodiment may generates the plurality of individual beams directly in a VCSEL array become. This has the advantage of individual addressability of Individual beams.
Eine Weiterführung des erfindungsgemäßen Verfahrens sieht vor, dass die Strahlführung auch durch dispersionsarme Monomodefaserbündel realisiert werden kann. Dabei wird die Lichtquelle nach Expansion in eine Vielzahl parallel geführter Fasern eingekoppelt. Die Auskopplung erfolgt ebenfalls über eine Fokussieroptik. Die Funktionen des Strahlteilers übernehmen in diesem Fall Faserkoppler.A continuation of the method according to the invention provides that the beam guidance can also be realized by dispersion-poor monomode fiber bundles. In this case, the light source after expansion into a plurality of parallel fibers coupled. The decoupling also takes place via a focusing optics. The functions of the beam splitter take over fiber couplers in this case.
Es kann eine Differenzmessung mit mindestens zwei verschiedenen Wellenlängen durchgeführt werden. Erfindungsgemäß können diese Messungen mit Wellenlängen durchgeführt werden, bei denen das semitransparente Objekt jeweils einen sehr unterschiedlichen Streu- und Absorptionskoeffizienten aufweist, um daraus ein Differenzbild zu erstellen.It a differential measurement with at least two different wavelengths can be performed. According to the invention, these Measurements with wavelengths carried out be in which the semitransparent object each one very has different scattering and absorption coefficients, to create a difference image.
Zur Verbesserung des Signal-Störsignalverhältnisses ist vorgesehen, dass eine Vielzahl von Frames, d.h., der gesamte Bildinhalt des Bildsensors einer definierten Zeitperiode (Sampling-Zeit) beim Durchfahren des Referenzarms im Speicher eines an den Bildsensor angeschlossenen Bildverarbeitungsrechners abgelegt und miteinander verrechnet werden.for Improvement of the signal-to-interference ratio It is envisaged that a plurality of frames, that is, the entire Image content of the image sensor of a defined time period (sampling time) when passing through the reference arm in the memory one to the image sensor connected image processing computer stored and with each other will be charged.
Eine erfindungsgemäße Vorrichtung zeichnet sich unter anderem dadurch aus, dass die Lichtquelle zur Erzeugung eines aus einer Vielzahl paralleler Einzelstrahlen bestehenden Strahlenbündels ausgebildet ist, dass ein Referenzspiegel vorgesehen ist, an dem ein in dem Strahlteiler abgespaltetes Referenzstrahlenbündel reflektiert wird, dass der Referenzspiegel in Richtung des Lichtstrahls verschiebbar angeordnet ist und mit der Länge eines Referenzarms eine Signalgewinnungsfläche im Bereich des Objekts festlegt, dass beim Durchfahren der Signalgewinnungsfläche durch das Objekt eine Vielzahl von zeitlich und räumlich verschiedenen Signalmustern erfassbar sind, die im Speicher einer an dem Bildsensor angeschlossenen Bildverarbeitungsrechner speicherbar und miteinander verrechenbar sind.A inventive device is characterized among other things by the fact that the light source for Generation of one consisting of a plurality of parallel individual beams Beam formed is that a reference mirror is provided on which a in the Beam splitter split reference beam is reflected that the reference mirror slidably disposed in the direction of the light beam is and with the length a reference arm, a signal acquisition surface in the region of the object determines that when driving through the signal extraction surface by the object a variety of temporally and spatially different signal patterns detectable are storable in the memory of an image processing computer connected to the image sensor and are billable with each other.
Weitere Einzelheiten, Vorteile und Merkmale der Erfindung ergeben sich nicht nur aus den Ansprüchen, den diesen zu entnehmenden Merkmalen – für sich und/oder in Kombination –, sondern auch aus der nachfolgenden Beschreibung der den Zeichnungen zu entnehmenden Ausführungsbeispiele. Dabei werden ausdrücklich auch Merkmale und Merkmalskombinationen nachfolgend beschriebener Ausführungsbeispiele beansprucht.Further Details, advantages and features of the invention do not arise only from the claims, the characteristics to be taken from these - alone and / or in combination - but also from the following description of the drawings to be taken Embodiments. It is expressly Also features and feature combinations described below embodiments claimed.
Das
Licht einer Lichtquelle
Der
Beamshifter
Im
Strahlteiler
Liegen
die Weglängenunterschiede
des Referenzarms
Die
Vielzahl der parallelen Einzelstrahlen (Beleuchtungsraster) werden
so korrespondierend zentriert auf jeweils ein oder wenige Pixel
Um
dennoch dreidimensionale Daten der Oberfläche
Kennt
man eine Stellung des Referenzarms
Zur Oberflächenkonturdatenextraktion wird a-priori Wissen in Form einer Datenbank genutzt, die typische Kombinationen aus Streu-, Absorptions- und Anisotropiefaktoren, der entsprechenden semitransparenten Materialien enthalten. Damit wird die zu erwartende Streulichtverteilung berechnet. Ein Berechnungsverfahren, das die optischen Eigenschaften semitransparenter Gewebe beschreibt ist z.B. in der Dissertation von Weniger K. FU Berlin 2004 beschrieben.for Surface contour data extraction is used a-priori knowledge in the form of a database, the typical Combinations of scattering, absorption and anisotropy factors, contain the corresponding semi-transparent materials. In order to the expected scattered light distribution is calculated. A calculation method, which describes the optical properties of semitransparent tissue is e.g. in the dissertation of Less K. FU Berlin 2004 described.
Ebenso wird, soweit die zu erwartende Kontur bekannt ist, also einer bestimmten Konturklasse zugeordnet werden kann, dies dazu genutzt Daten mit Prioritäten zu versehen.As well becomes, as far as the expected contour is known, so a certain Contour class can be assigned to data used with this priorities to provide.
Der Ablauf der Messung wird von einem Microcontroller gesteuert. Dies beinhaltet das Verschieben der Fokussieroptik und des Referenzarmspiegels, wie auch die Bewegung des Beamshifters.Of the Sequence of the measurement is controlled by a microcontroller. This involves shifting the focusing optics and the reference mirror, as well as the movement of the beamshifter.
3 D Konturdaten, die teilüberlappend von verschiedenen Positionen des Bildsensors aus aufgenommen werden, werden mittels Software zu einem Gesamtdatensatz kombiniert.3 D contour data, partially overlapping taken from different positions of the image sensor, are combined by means of software into an overall data record.
Aus den extrahierten Konturdaten des gemessenen Objekts wird ein STL-File erstellt, der mit geeigneten CAD/CAM Systemen weiterbearbeitet werden kann.Out the extracted contour data of the measured object becomes an STL file created using suitable CAD / CAM systems can.
Die vorliegende Erfindung beschreibt eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Gewinnung von 3D Daten semitransparenter Objekte durch Anwendung von Interferenzmessung/Autokorrelationsmessungen mit Lichtquellen kurzer Kohärenzlänge. Dies kann im Extremfall weißes Licht sein, jedoch auch von einer oder einem Array superlumineszenter Dioden, oder von einer oder einem Array mehrerer relativ breitbandiger Hochleistungsleuchtdioden stammen. Ebenso ist eine Kombination mehrerer Laserdioden mit gegeneinander versetzter Zentralwellenlänge möglich. Der Wellenlängenversatz kann 5 – 150 nm, bevorzugt 10 – 50 nm betragen.The The present invention describes an apparatus and a method for obtaining 3D data of semitransparent objects by applying Interference measurement / autocorrelation measurements with light sources short Coherence length. This can in extreme cases white Be light, but also of one or an array superluminescent Diodes, or from one or an array of several relatively broadband High-performance LEDs come. Likewise, a combination of several Laser diodes with mutually offset central wavelength possible. Of the Wavelength offset can be 5-150 nm, preferably 10 - 50 nm amount.
Die Kohärenzlänge lc die bestimmend ist für die longitudinale Auflösung einer OCT Messung ist für eine gaußförmige Spektralverteilung gegeben durch: The coherence length l c, which is decisive for the longitudinal resolution of an OCT measurement, is given for a Gaussian spectral distribution by:
Die
Kohärenzlänge sollte
bevorzugt im Bereich 2 – 20 μm liegen,
bei Emissionsleistungen im Bereich 1 bis 100 mW bevorzugt 3 – 50 mW.
Ein Zusammenhang zwischen der Zentralwellenlänge und der Bandbreite (FWHM)
der Lichtquelle und der Kohärenzlänge ist
in
Abweichend vom Stand der Technik soll in dem beschriebenen Verfahren lediglich die Oberflächeninformation gewonnen werden. Es können daher auch Lichtquellen mit Wellenlängen gewählt werden, bei denen der Streukoeffizient des Objekts hoch ist. Damit wird eine Differenzmessung mit mindestens zwei verschiedenen Wellenlängen möglich.deviant The prior art should in the described method only the surface information be won. It can Therefore, light sources with wavelengths are selected in which the scattering coefficient of the object is high. This will be a difference measurement with at least two different wavelengths possible.
Erfindungsgemäß können dies
zwei Messungen mit Wellenlängen
sein, bei denen das semitransparente Objekt
Im Falle eines hohen Streukoeffizienten wird sich dann im Nahfeld des Beleuchtungspunktes ein kleiner jedoch heller Streuhof bilden. Im Falle eines kleinen Streukoeffizienten wird sich das Streulicht weit im semitransparenten Medium ausbreiten jedoch im Nahfeld eine geringere Intensität aufweisen. Dies eröffnet erweiterte Auswertungsmöglichkeiten durch die Bildverarbeitungssoftware.in the Case of a high scattering coefficient will then be in the near field of the Illumination point to form a small but bright Streuhof. in the In case of a small scattering coefficient, the scattered light will be far in the semi-transparent medium, however, a smaller spread in the near field intensity exhibit. This opens extended evaluation options the image processing software.
Im Falle von Zahnhartsubstanz liegt ein Wellenlängenbereich mit hohem Streukoeffizienten im blauen und ultravioletten Spektralbereich, wobei Wellenlängen unter 350 nm wegen der Gefahr der Induktion von DNA Strangbrüchen und Radikalbildung vermieden werden sollten. Der Streukoeffizient liegt im Fall von Zahnhartsubstanz im Bereich 8 – 90 l/mm bei Absorptionskoeffizienten im Bereich von 0,1 – 1,5 l/mm. Bei zahnärztlichen Füllungsmaterialien liegt der Streukoeffizient hier im Bereich 8 – 25 l/mm und der Absorptionskoeffizient bei 0,3 – 4 l/mm.In the case of dental hard tissue, there is a wavelength range with high scattering coefficients in the blue and ultraviolet spectral regions, and wavelengths below 350 nm should be avoided because of the danger of inducing DNA strand breaks and radical formation. The scattering coefficient is in the case of hard tooth substance in the range 8 - 90 l / mm with absorption coefficients in the range of 0.1 - 1.5 l / mm. In the case of dental filling materials, the scattering coefficient is in the range 8 - 25 l / mm and the absorption coefficient at 0.3 - 4 l / mm.
Wellenlängenbereiche
geringer Streuung liegen dagegen für semitransparente Objekte
im roten und infraroten Spektralbereich. Für Zahnhartsubstanz liegt der
Streukoeffizient im Bereich von 1 – 40 l/mm für Zahnschmelz an der unteren
Grenze und für Dentin
im oberen Bereich. Füllungswerkstoffe
liegen im Bereich 3 – 20
l/mm. Beispiele für
Streukoeffizienten und Adsorptionskoeffizienten von Schmelz und Dentin
sind den
Limitierend im nahen Infrarot ist die abnehmende spektrale Empfindlichkeit des Detektors. Im Falle einer bevorzugten Ausführungsform fällt diese bei einem CMOS Sensor bei 1000 nm unter 5%. Ebenfalls ist die Verwendung eines CCD Sensors möglich. Weiterhin lässt sich mit geeigneten Sensoren der Wellenlängenbereich ins Infrarot erweitern. Geeignet sind dazu beispielsweise InAs- oder HgCdTe-Detektoren mit denen der Bereich 2, 5 bis 10 μm abgedeckt werden kann.limiting in the near infrared is the decreasing spectral sensitivity of the Detector. In a preferred embodiment, this is included a CMOS sensor at 1000 nm below 5%. Also is the use a CCD sensor possible. Continue lets expand the wavelength range into the infrared with suitable sensors. Suitable These include, for example, InAs or HgCdTe detectors the range 2, 5 to 10 microns covered can be.
Falls der Spektralbereich des nahen Infrarot, beispielsweise 750 – 1000 nm genutzt wird, kann die dann verfügbare Tiefeninformation auch zur Kariesdiagnostik genutzt werden. Falls zwei oder mehrere Wellenlängen simultan genutzt werden sollen, kann eine RGB-Variante eines CMOS-Sensors genutzt werden, die im roten, grünen und blauen Spektralbereich Empfindlichkeitsmaxima aufweist.If the spectral range of the near infrared, for example 750 - 1000 nm used, then available Depth information can also be used for caries diagnosis. If two or more wavelengths can be used simultaneously, an RGB variant of a CMOS sensor to be used in red, green and blue spectral region having sensitivity maxima.
Claims (31)
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
DE200510019510 DE102005019510A1 (en) | 2004-10-29 | 2005-04-27 | Contour data detection method, e.g. for use in dentistry, involves determining position of signal extraction surface relative to object, and conflating light beam reflected from object in beam splitter |
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DE102004052933 | 2004-10-29 | ||
DE102004063460.2 | 2004-12-23 | ||
DE102004063460 | 2004-12-23 | ||
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102005019510A1 true DE102005019510A1 (en) | 2006-05-04 |
Family
ID=36201961
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
DE200510019510 Withdrawn DE102005019510A1 (en) | 2004-10-29 | 2005-04-27 | Contour data detection method, e.g. for use in dentistry, involves determining position of signal extraction surface relative to object, and conflating light beam reflected from object in beam splitter |
Country Status (1)
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DE (1) | DE102005019510A1 (en) |
Citations (2)
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---|---|---|---|---|
US5321501A (en) * | 1991-04-29 | 1994-06-14 | Massachusetts Institute Of Technology | Method and apparatus for optical imaging with means for controlling the longitudinal range of the sample |
WO1995033971A1 (en) * | 1994-06-02 | 1995-12-14 | Massachusetts Institute Of Technology | Method and apparatus for acquiring images |
-
2005
- 2005-04-27 DE DE200510019510 patent/DE102005019510A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8130 | Withdrawal |