Sök Bilder Maps Play YouTube Nyheter Gmail Drive Mer »
Logga in
Använder du ett skärmläsningsprogram? Öppna boken i tillgänglighetsläge genom att klicka här. Tillgänglighetsläget har samma grundläggande funktioner men fungerar bättre ihop med skärmläsningsprogrammet.

Patent

  1. Avancerad patentsökning
PublikationsnummerCN100538369 C
Typ av kungörelseBeviljande
AnsökningsnummerCN 200380109299
PCT-nummerPCT/US2003/038463
Publiceringsdatum9 sep 2009
Registreringsdatum2 dec 2003
Prioritetsdatum6 dec 2002
Även publicerat somCN1745307A, DE60331243D1, EP1570277A2, EP1570277B1, US6920689, US7330039, US20040107568, US20050167816, US20080132095, WO2004053976A2, WO2004053976A3
Publikationsnummer200380109299.4, CN 100538369 C, CN 100538369C, CN 200380109299, CN-C-100538369, CN100538369 C, CN100538369C, CN200380109299, CN200380109299.4, PCT/2003/38463, PCT/US/2003/038463, PCT/US/2003/38463, PCT/US/3/038463, PCT/US/3/38463, PCT/US2003/038463, PCT/US2003/38463, PCT/US2003038463, PCT/US200338463, PCT/US3/038463, PCT/US3/38463, PCT/US3038463, PCT/US338463
Uppfinnare伊戈尔·K·汉德罗斯, 加埃唐·L·马蒂厄, 卡尔·V·雷诺兹
Sökande佛姆费克托公司
Exportera citatBiBTeX, EndNote, RefMan
Externa länkar:  SIPO, Espacenet
一用于测试集成电路的插座的制作方法及所述插座
CN 100538369 C
Sammanfattning  tillgängligt på kinesiska
Citat från patent
citerade patent Registreringsdatum Publiceringsdatum Sökande Titel
US591770715 nov 199429 jun 1999Formfactor, Inc.Flexible contact structure with an electrically conductive shell
US62920031 jul 199818 sep 2001Xilinx, Inc.Apparatus and method for testing chip scale package integrated circuits
WO1996015458A Ingen titel tillgänglig
Juridiska händelser
DatumKodHändelseBeskrivning
8 mar 2006C06Publication
3 maj 2006C10Request of examination as to substance
9 sep 2009C14Granted
30 jan 2013C17Cessation of patent right